公開了直流自愈式金屬化薄膜電容器的壽命預(yù)測方法,方法中,測定直流自愈式金屬化薄膜電容器試驗(yàn)前電容C0和試驗(yàn)電壓Ui,進(jìn)行老化試驗(yàn),每間隔預(yù)定時(shí)刻測量直流自愈式金屬化薄膜電容器的電容以記錄不同時(shí)刻的電容值Cx及相鄰測量之間的電容差ΔC;拆解直流自愈式金屬化薄膜電容器獲得薄膜電容器芯子;逐層拆解薄膜電容器芯子獲得老化后的內(nèi)部薄膜試樣;統(tǒng)計(jì)多段試樣中金屬電極損失掉的面積獲得不同位置處面積損失數(shù)據(jù),對數(shù)正態(tài)分布分析面積損失數(shù)據(jù)獲得擬合結(jié)果以計(jì)算平均每擊穿點(diǎn)損失的金屬電極面積Sn,失效概率Φ和壽命t在威布爾坐標(biāo)紙上繪制圖像獲得電容器的壽命受到局部金屬化薄膜自愈特性影響的模型。
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“直流自愈式金屬化薄膜電容器的壽命預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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