一種基于最小二乘支持向量機(jī)的晶體諧振器貯存壽命預(yù)測方法,該方法有四大步驟:步驟一:分析晶體諧振器在長期貯存過程中退化機(jī)理,獲得主要退化機(jī)理對參數(shù)變化的影響,確定晶體諧振器的退化敏感參數(shù);步驟二:設(shè)計并開展晶體諧振器加速貯存退化試驗,對選定的敏感參數(shù)進(jìn)行測量,定期采集試驗數(shù)據(jù);步驟三:利用最小二乘支持向量機(jī)理論處理試驗數(shù)據(jù),建立在不同加速應(yīng)力水平下該敏感參數(shù)的退化模型;步驟四:建立正常應(yīng)力下的晶體諧振器參數(shù)退化模型,確定失效判據(jù),預(yù)測晶體諧振器的貯存壽命。本發(fā)明解決了在預(yù)測晶體諧振器貯存壽命時遇到的小樣本、非線性等實際問題,簡化了計算的復(fù)雜性,提高了收斂速度和精度,具有較高的推廣價值。
聲明:
“基于最小二乘支持向量機(jī)的晶體諧振器貯存壽命預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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