本實(shí)用新型閂鎖測(cè)試平移裝置,應(yīng)用于設(shè)有
芯片的閂鎖測(cè)試機(jī)臺(tái),所述閂鎖測(cè)試平移裝置包括電池組、開(kāi)關(guān)元件、用于監(jiān)控所述芯片的電源管腳電流的電流監(jiān)控器和用于監(jiān)控所述芯片的電源管腳電壓的電壓監(jiān)控器,所述閂鎖測(cè)試平移裝置與所述芯片構(gòu)成一測(cè)試回路。通過(guò)閂鎖測(cè)試機(jī)臺(tái)進(jìn)行脈沖控制觸發(fā),即令電流源觸發(fā)被測(cè)管腳,從而模擬芯片正常工作時(shí)的閂鎖測(cè)試;可經(jīng)過(guò)電流監(jiān)控器和電壓監(jiān)控器判斷是否閂鎖現(xiàn)象發(fā)生;閂鎖現(xiàn)象發(fā)生,并且電池組不停供電,所以可以將閂鎖現(xiàn)象保持??;將芯片從測(cè)試平臺(tái)拆下即可移動(dòng),便于進(jìn)行失效分析。
聲明:
“閂鎖測(cè)試平移裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)