本發(fā)明是一種結(jié)合軟件可靠性測試與硬件可靠性試驗的聯(lián)合試驗方法,用于軟硬件系統(tǒng)可靠性測試。本方法分析軟硬件系統(tǒng),構(gòu)造硬件可靠性試驗剖面和軟件可靠性測試剖面;軟、硬件場景正交獲得系統(tǒng)任務(wù)場景,并確定系統(tǒng)任務(wù)場景執(zhí)行概率;建立軟件可靠性測試剖面和硬件場景剖面是否關(guān)聯(lián)的關(guān)系矩陣;對每個系統(tǒng)任務(wù)場景,結(jié)合硬件環(huán)境應(yīng)力試驗剖面和相關(guān)聯(lián)的軟件可靠性測試剖面生成階段子剖面;同一系統(tǒng)任務(wù)的階段子剖面組織成為一個周期子剖面,將周期子剖面按照試驗循環(huán)周期組織生成最終的聯(lián)合試驗剖面;根據(jù)聯(lián)合試驗剖面生成試驗用例進行試驗。本發(fā)明試驗結(jié)果能更準確地進行系統(tǒng)可靠性鑒定,能發(fā)現(xiàn)傳統(tǒng)的可靠性試驗中不能發(fā)現(xiàn)的系統(tǒng)失效。
聲明:
“結(jié)合軟件可靠性測試與硬件可靠性試驗的聯(lián)合試驗方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)