本發(fā)明公開(kāi)了一種實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)器測(cè)試儀提高同測(cè)數(shù)的方法，包括：1）通過(guò)截取探針臺(tái)與存儲(chǔ)器測(cè)試儀之間的通訊信息，實(shí)現(xiàn)將探針臺(tái)上的同測(cè)數(shù)信息轉(zhuǎn)換為存儲(chǔ)器測(cè)試儀所擁有的同測(cè)數(shù)信息，并發(fā)送給存儲(chǔ)器測(cè)試儀；2）存儲(chǔ)器測(cè)試儀采用其原有的同測(cè)數(shù)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試時(shí)采用應(yīng)用同測(cè)與系統(tǒng)同測(cè)相結(jié)合的方法，對(duì)實(shí)際翻倍后的同測(cè)數(shù)量的芯片進(jìn)行測(cè)試；3）獲得測(cè)試結(jié)果；4）將實(shí)際物理芯片失效情況組合為存儲(chǔ)器測(cè)試儀同測(cè)數(shù)信息包，在存儲(chǔ)器測(cè)試儀與探針臺(tái)通訊時(shí)，再將存儲(chǔ)器測(cè)試儀同測(cè)數(shù)信息包拆分為探針臺(tái)上同測(cè)數(shù)信息。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)芯片同測(cè)數(shù)擴(kuò)展為更多的芯片同測(cè)，加快測(cè)試速度，節(jié)省測(cè)試費(fèi)用，降低生產(chǎn)成本。