本發(fā)明針對智能卡在生產(chǎn)、制造和應(yīng)用過程中,因應(yīng)用環(huán)境不穩(wěn)定導致產(chǎn)品性能劣化或功能失效的現(xiàn)象提出了一種測試智能卡可靠性的方法。本方法的測試流程包括:(1)生成測試卡;(2)通過讀卡設(shè)備,在測試卡電源管腳施加穩(wěn)定直流電壓偏置測量電流ICC1;然后由干擾電路對測試卡電源管腳輸入干擾信號,測量電流ICC2,如果ICC2超過正常電流值ICC1的5倍,則中止測試,判斷測試失敗;如果ICC2在正常電流值ICC1的5倍以內(nèi),則繼續(xù)后面的檢驗步驟;(3)干擾測試完成后,檢驗測試卡的性能和功能,如果測試卡的性能劣化或功能失效,則測試結(jié)果判定為樣品未通過測試;如果測試卡性能和功能正常,則測試結(jié)果判定為樣品通過測試。
聲明:
“測試智能卡可靠性的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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