本發(fā)明涉及漏電檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種可控硅故障自測(cè)試方法、電路、連接器及電器設(shè)備。本發(fā)明技術(shù)方案通過(guò)可控硅測(cè)試控制模塊接收半波整流電路的交流同步信號(hào)，判斷所述交流同步信號(hào)的交流幅值小于零時(shí)，開始對(duì)可控硅進(jìn)行檢測(cè)；在第一預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)輸出開啟信號(hào)至可控硅的受控端，以使所述可控硅導(dǎo)通，獲取第一目標(biāo)電壓；在第二預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)輸出開啟信號(hào)至所述可控硅的受控端，以使所述可控硅導(dǎo)通，獲取第二目標(biāo)電壓；根據(jù)第一目標(biāo)電壓及第二目標(biāo)電壓計(jì)算差值與閾值比較，判斷所述可控硅是否失效，在所述可控硅失效時(shí)輸出故障信號(hào)警示用戶，實(shí)現(xiàn)了漏電檢測(cè)電路中可控硅自檢測(cè)，不需要人為控制檢測(cè)。