本發(fā)明公開了一種基于柵電壓變化的IGBT健康監(jiān)測方法,其包括以下步驟:S1、建立老化特征參數(shù)數(shù)據(jù)庫,并確定失效閾值電壓;S2、獲取目標(biāo)IGBT的工作條件,并實時監(jiān)測目標(biāo)IGBT柵極電壓;S3、提取目標(biāo)IGBT開啟時柵極電壓第四階段的上升電壓;S4、根據(jù)目標(biāo)IGBT的工作條件將第四階段上升電壓與數(shù)據(jù)庫進(jìn)行比對,判斷第四階段上升電壓是否超過失效閾值電壓,若是則判定目標(biāo)IGBT失效,否則判定目標(biāo)IGBT有效,完成IGBT健康監(jiān)測。本發(fā)明參數(shù)檢測在器件柵極驅(qū)動電路中實施,避免了電力電子系統(tǒng)中的高功率部分,極大降低了監(jiān)測系統(tǒng)設(shè)計難度,隔離簡單,且在監(jiān)測過程中,不影響IGBT器件的正常工作。
聲明:
“基于柵電壓變化的IGBT健康監(jiān)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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