本文中描述微電子裝置測試以及相關(guān)方法、裝置和系統(tǒng)。裝置可包含存儲器陣列,所述存儲器陣列包含某一數(shù)目的行和某一數(shù)目的列。所述存儲器裝置可進(jìn)一步包含耦合到所述存儲器陣列的電路。所述電路可經(jīng)配置以對所述數(shù)目的行中的每一行執(zhí)行測試操作以檢測:所述數(shù)目的行中的第一行的第一失效;以及與所述數(shù)目的行的行集合相關(guān)聯(lián)的額外失效集合。所述電路還可經(jīng)配置以確定所述行集合是否鄰近于所述第一行。此外,響應(yīng)于確定所述行集合鄰近于所述第一行,所述電路可經(jīng)配置以產(chǎn)生指示所述數(shù)目的列中的列的失效的信號。
聲明:
“微電子裝置測試以及相關(guān)裝置、系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)