本實用新型提供了一種繼承性大變形光纖測試結(jié)構(gòu),包括:多根測試光纖,每根測試光纖外接測試設(shè)備;設(shè)置兩個固結(jié)區(qū)將測試光纖直接固定在檢測對象上,或者先固定在測試光線載體上,測試光線載體再固定在檢測對象上;所有測試光纖在檢測區(qū)域內(nèi)長度不同Li≤Li?1(1+δ),δ作為光纖有效測試應(yīng)變量。測試原理為:第i根測試光纖Gi即將失效時,第i+1根測試光纖Gi+1進(jìn)入有效測試狀態(tài),大變形由繼承方式獲得。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單,穩(wěn)定性好,檢測精度高,結(jié)構(gòu)成本及其實施成本低,實施過程簡單,有極大的應(yīng)用前景。
聲明:
“繼承性大變形光纖測試結(jié)構(gòu)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)