一種用于非易失性存儲器可靠性測試的方法，包括如下步驟：在K個分別 具有Nm個區(qū)塊的非易失性存儲器的每一個中分別選取N個區(qū)塊；對被選取的 K×N個區(qū)塊分別執(zhí)行T次測試程序，得到測試數(shù)據(jù)；根據(jù)測試數(shù)據(jù)，統(tǒng)計執(zhí) 行測試程序次數(shù)與該次數(shù)的測試中累計發(fā)生失效的區(qū)塊數(shù)目之間的數(shù)據(jù)關系 并繪制測試曲線；確定等效失效區(qū)塊數(shù)目判斷標準；在測試曲線中讀出執(zhí)行次 數(shù)值對應的失效數(shù)目；將得到的失效數(shù)目與等效失效區(qū)塊數(shù)目判斷標準相比 較，判斷是否合格。本發(fā)明還提供了一種用于非易失性存儲器可靠性測試的裝 置。本發(fā)明的優(yōu)點在于，所述測試方法和裝置在不喪失統(tǒng)計學意義情況下，降 低測試的時間，提高測試效率。
聲明：
“非易失性存儲器可靠性的測試方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
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2025年03月25日 ~ 27日 
