本發(fā)明涉及固態(tài)硬盤耐久度測(cè)試領(lǐng)域，具體公開一種固態(tài)硬盤耐久度測(cè)試方法、樣本量計(jì)算方法及裝置，提取固態(tài)硬盤的功能失效率和不可糾正錯(cuò)誤率；基于信心上限控制函數(shù)創(chuàng)建以功能失效率為影響因子的功能失效錯(cuò)誤與樣本量關(guān)系模型，以及以不可糾正錯(cuò)誤率為影響因子的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤與樣本量關(guān)系模型；確定耐久度測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)功能失效錯(cuò)誤，將該標(biāo)準(zhǔn)功能失效錯(cuò)誤代入功能失效錯(cuò)誤與樣本量關(guān)系模型，獲得第一樣本量；將第一樣本量下的信心上限控制函數(shù)值代入數(shù)據(jù)錯(cuò)誤與樣本量關(guān)系模型，獲得第二樣本量；在第一樣本量和第二樣本量中，選取較大的樣本量為測(cè)試樣本量。本發(fā)明在保證測(cè)試質(zhì)量的同時(shí)，提高測(cè)試樣本量的精確度及測(cè)試效率，進(jìn)而顯著節(jié)省研發(fā)成本。