本發(fā)明提供了一種產(chǎn)品容錯性測試方法及其故障插入裝置,通過產(chǎn)生故障模擬信號對產(chǎn)品進行容錯性測試,所述方法在產(chǎn)品內(nèi)部設(shè)置故障插入裝置,由故障插入裝置產(chǎn)生不同類型的故障模擬信號,通過產(chǎn)品內(nèi)部的CPU控制接口選通故障插入裝置的通信控制模塊,對通信控制模塊的控制寄存器進行內(nèi)容控制,有選擇性地將不同類型的故障模擬信號插入任意的
芯片輸入/輸出管腳或直接插入芯片內(nèi)部的功能模塊,從而模擬產(chǎn)品內(nèi)部單元部分失效或全部失效。本方法可以為電子產(chǎn)品提供一種簡單、功能強大的在線故障插入手段,可完成多種類型信號故障的模擬,全面模擬各種故障模式,提高了單板測試覆蓋面和重復性,豐富了容錯性測試方法,改善了測試效果。
聲明:
“產(chǎn)品容錯性測試方法及其故障插入裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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