本申請涉及老煉電路的電性能測試領(lǐng)域,提供了一種老煉電路的參數(shù)測量順序確定方法和系統(tǒng)。該方法包括:在M個待測參數(shù)的種排序方式下,獲取所述M個待測參數(shù)中,每個待測參數(shù)在測量順序為1時的目標失效率,并將測量順序為1時目標失效率最大的待測參數(shù)作為第1參數(shù),其中,所述第1參數(shù)為目標順序排第1的參數(shù);獲取除了所述第1參數(shù)至第i?1參數(shù)以外的待測參數(shù)中,每個待測參數(shù)在測量順序為i時的目標失效率,并將測量順序為i時目標失效率最大的待測參數(shù)作為第i參數(shù),其中,所述第i參數(shù)為目標順序排第i的參數(shù),i依次取值:。通過上述方法,可以有效解決老煉電路的參數(shù)測量時間長、效率低的問題。
聲明:
“老煉電路的參數(shù)測量順序確定方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)