本申請涉及一種芯片測試設(shè)備、系統(tǒng)、芯片及藍(lán)牙耳機(jī)。其中，芯片測試設(shè)備包括控制單元、掃描鏈、數(shù)據(jù)選擇設(shè)備和寄存器設(shè)備；數(shù)據(jù)選擇設(shè)備包括第一數(shù)據(jù)選擇器、第二數(shù)據(jù)選擇器和第三數(shù)據(jù)選擇器；寄存器設(shè)備包括第一寄存器和第二寄存器；在芯片內(nèi)部引入輸入旁路直接連通到芯片掃描輸出的路徑，可以將自動(dòng)化測試設(shè)備寄生應(yīng)引起時(shí)序變化導(dǎo)致的失效與芯片本身缺陷引起的失效區(qū)分開，便于快速定位失效原因。芯片測試數(shù)據(jù)通過自動(dòng)測試設(shè)備發(fā)送，只經(jīng)過兩級(jí)移位寄存器，便于同時(shí)觀察自動(dòng)測試設(shè)備的輸入/輸出狀態(tài)，沒有經(jīng)過掃描鏈而直接送出，可以快速將掃描鏈的缺陷引起的失效與測試機(jī)的寄生干擾引起的失效區(qū)分開。