本發(fā)明公開了一種低頻低壓減載保護(hù)系統(tǒng)的測試方法，本申請可以結(jié)合目標(biāo)微電網(wǎng)系統(tǒng)因超載而失效時(shí)的輸出特性數(shù)據(jù)確定出待測低頻低壓減載保護(hù)系統(tǒng)的保護(hù)觸發(fā)參數(shù)，由于本申請所采用的保護(hù)觸發(fā)參數(shù)是基于目標(biāo)微電網(wǎng)確定出來的，因此本申請?jiān)跍y試過程中，針對性地測試待測低頻低壓減載保護(hù)系統(tǒng)是否能夠在目標(biāo)微電網(wǎng)系統(tǒng)中發(fā)揮保護(hù)作用，在測試合格后便可直接將待測低頻低壓減載保護(hù)系統(tǒng)應(yīng)用于目標(biāo)微電網(wǎng)，可靠性較強(qiáng)，出現(xiàn)保護(hù)失效的概率較低，防止用電安全事故的發(fā)生。本發(fā)明還公開了一種低頻低壓減載保護(hù)系統(tǒng)的測試裝置及設(shè)備，具有如上低頻低壓減載保護(hù)系統(tǒng)的測試方法相同的有益效果。