本發(fā)明公開(kāi)了一種功率器件的高溫反偏和高溫柵偏測(cè)試系統(tǒng),適用于對(duì)功率器件的高溫反偏或高溫柵偏進(jìn)行可靠性測(cè)試,它由微機(jī)控制系統(tǒng)、電壓偏置系統(tǒng)、器件加熱系統(tǒng)和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)四個(gè)部分組成,根據(jù)所接入的被測(cè)器件端子的不同可以對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行高溫反偏測(cè)試或高溫柵偏測(cè)試,并在測(cè)試中對(duì)被測(cè)功率器件的泄漏電流的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)采集,可根據(jù)預(yù)先設(shè)定的失效標(biāo)準(zhǔn),準(zhǔn)確記錄高溫反偏和高溫柵偏的失效時(shí)間。
聲明:
“功率器件的高溫反偏和高溫柵偏測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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