本發(fā)明公開了一種存儲器的測試方法,所述存儲器具有n個測試項(xiàng)目,所述測試方法包括對測試項(xiàng)目i進(jìn)行N次判斷,其中,1≤i≤n,1≤N≤100,且i和N均為整數(shù);當(dāng)i小于n時,若對所述測試項(xiàng)目i的第N次判斷結(jié)果為合格,則進(jìn)入測試項(xiàng)目i+1的測試;當(dāng)i等于n時,若對所述測試項(xiàng)目i的第N次判斷結(jié)果為合格,則判斷所述存儲器為合格品;當(dāng)N小于100時,若對所述測試項(xiàng)目i的第N次判斷結(jié)果為失效,則進(jìn)行對所述測試項(xiàng)目i的第N+1次判斷;當(dāng)N等于100時,若對所述測試項(xiàng)目i的第N次判斷結(jié)果為失效,則判斷所述存儲器為不合格品。這樣的測試方法可以大幅度提高測試穩(wěn)定性,大大降低誤判率,從而提高產(chǎn)品良率。
聲明:
“存儲器的測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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