本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體激光器
芯片的測試系統(tǒng),包括測試柜、測試電源、冷卻子系統(tǒng)、穩(wěn)定監(jiān)控子系統(tǒng)和計算機處理子系統(tǒng);測試柜包括裝載平臺,多個待測試的芯片組件放置在裝載平臺上;測試電源用以多個待測試的芯片組件提供測試電流;冷卻子系統(tǒng)用于向裝載平臺提供循環(huán)冷卻液體,以為芯片組件的測試提供穩(wěn)定可靠的溫度;溫度監(jiān)控子系統(tǒng)用于監(jiān)控裝載平臺和循環(huán)冷卻液體的溫度;計算機處理子系統(tǒng)用以控制冷卻子系統(tǒng)提供具有穩(wěn)定可靠的溫度的循環(huán)冷卻液,并根據(jù)溫度監(jiān)控子系統(tǒng)所監(jiān)控的結(jié)果,向測試電源發(fā)出相應(yīng)的控制指令。通過上述方式,本發(fā)明能夠高測試的安全性,避免因半導(dǎo)體激光器芯片組件意外失效帶來的損失。
聲明:
“半導(dǎo)體激光器芯片的測試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)