本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體量產(chǎn)測試中數(shù)據(jù)標(biāo)識方法,機(jī)械手平臺將半導(dǎo)體成品從標(biāo)記為T的待測料盤區(qū)取出放入測試機(jī)內(nèi)進(jìn)行測試,測試完成后機(jī)械手平臺將測試完的半導(dǎo)體成品放回原先取出的料盤區(qū)位置;數(shù)個待測料盤疊放高度方向設(shè)定為Z軸,每個料盤第一排測試的半導(dǎo)體成品方向為X軸,料盤另一方向為Y軸,層疊的料盤中任意一個半導(dǎo)體成品用XYZ坐標(biāo)定位置,自動測試機(jī)與機(jī)械手機(jī)進(jìn)行通訊,保證每個料盤中的半導(dǎo)體成品具有唯一的對應(yīng)關(guān)系,解決了半導(dǎo)體成品自動測試中混料、分料、測試數(shù)據(jù)和實際測試半導(dǎo)體成品無法對應(yīng)的問題,實現(xiàn)自動量產(chǎn)按照相應(yīng)失效項進(jìn)行有效分料和數(shù)據(jù)對應(yīng),提高機(jī)臺適用能力。
聲明:
“半導(dǎo)體量產(chǎn)測試中數(shù)據(jù)標(biāo)識方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)