本發(fā)明公開了一種開入回路中光耦可靠性實(shí)時(shí)預(yù)測方法，此方法利用了光耦在恒定溫度應(yīng)力下，其可靠壽命符合阿倫尼斯模型這一特性，推算出光耦在各工作溫度下理論可靠運(yùn)行時(shí)間；為了能實(shí)時(shí)在線評(píng)估光耦的運(yùn)行狀態(tài)，需實(shí)時(shí)采集光耦的工作環(huán)境溫度，并在線累加各溫度下的運(yùn)行時(shí)間；通過Miners法則，計(jì)算光耦各溫度下累計(jì)的運(yùn)行時(shí)間和各溫度下理論可靠工作時(shí)間的比值和，當(dāng)比值和接近1時(shí)，微機(jī)保護(hù)裝置將發(fā)出光耦可能失效的預(yù)警。本方法運(yùn)用在電力微機(jī)保護(hù)裝置中，可以簡單、有效、實(shí)時(shí)、合理的評(píng)估開入回路中光耦的運(yùn)行狀態(tài)，并可在光耦即將可能發(fā)生失效前，微機(jī)保護(hù)裝置發(fā)出預(yù)警。