一種智能卡并聯(lián)雙位測試裝置,包括用于放置智能卡的下模以及用于對智能卡進行測試的上模,所述上模的底部設有測試頭,所述測試頭上設有兩排測試針排,每排測試針排由若干測試針組組成;每個測試針組由至少兩根測試針組成。本實用新型的智能卡并聯(lián)雙位測試裝置,在每個智能卡模塊的觸點上均設有至少兩根測試針,對于M3模塊,有6個觸點,至少需要有12(6*2)根測試針,對于M2/M4模塊,有8個觸點,至少需要有16(8*2)根測試針。采用多測試針系統(tǒng)的測試頭裝置,可以有效避免單根測試針由于受到粉塵干擾引起的誤判,并可避免單根測試針由于疲勞、形變失效造成的誤判,從而保證了長時間、少誤測的大量智能卡模塊產品的生產順利進行,提升產品合格率,降低生產成本。
聲明:
“智能卡并聯(lián)雙位測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)