本發(fā)明公開了一種上電緩沖電阻的性能測試方法,考慮到待測緩沖電阻在損壞后通常會形成斷路,直流電源便無法正常地通過待測緩沖電阻為
儲能電容充電,因此本申請可以在儲能電容被充電預(yù)設(shè)時段后且儲能電容的電壓值不大于預(yù)設(shè)閾值的情況下判定待測緩沖電阻失效,能夠準(zhǔn)確地對上電緩沖電阻的性能進(jìn)行測試,也即能夠在已知上電緩沖電阻性能的情況下對伺服驅(qū)動器或者變頻器進(jìn)行使用,消除了安全隱患。本發(fā)明還公開了一種上電緩沖電阻的性能測試裝置及設(shè)備,具有如上上電緩沖電阻的性能測試相同的有益效果。
聲明:
“上電緩沖電阻的性能測試方法、裝置及設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)