本實用新型公開了一種用于麥克風
芯片的測試插座,包括測試座以及能蓋合在所述測試座上的測試蓋。所述測試座內(nèi)設有半球形結(jié)構(gòu)的下腔室;所述下腔室的頂部設有用于放置待測芯片的浮動板,底部設有用于放置收音器的收音槽。所述測試蓋內(nèi)設有能與所述下腔室配合以形成球形反射腔的上腔室。所述上腔室的頂部設有用于放置發(fā)聲器的發(fā)聲槽,內(nèi)壁設有能彈性壓靠到待測芯片上的壓靠組件。所述測試蓋內(nèi)還設有用于密封所述球形反射腔的密封組件。本實用新型的測試插座能有效屏蔽外界聲音,均勻高效地傳導測試聲音,同時又避免了測試過程中芯片因壓力過大或過小導致的測試失效。
聲明:
“用于麥克風芯片的測試插座” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)