一種對(duì)同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器自測(cè)試的方法及其裝置,在系統(tǒng)正常工作之前對(duì)SDRAM進(jìn)行自測(cè)試,其方法為:啟動(dòng)同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器SDRAM自測(cè)試,系統(tǒng)切換到自測(cè)試模式下;CPU將數(shù)據(jù)寫(xiě)入自測(cè)試模塊的第一雙端口RAM;仲裁模塊從所述第一雙端口RAM中讀取數(shù)據(jù)并寫(xiě)入SDRAM;仲裁模塊從SDRAM中回讀數(shù)據(jù)并寫(xiě)入自測(cè)試模塊的第二雙端口RAM中;CPU從所述第二雙端口RAM中讀數(shù)據(jù),并對(duì)寫(xiě)入和讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,以判斷SDRAM是否工作正常;在自測(cè)試工作完成后,系統(tǒng)切換到正常工作模式下,實(shí)現(xiàn)業(yè)務(wù)的恢復(fù)。本發(fā)明增加了系統(tǒng)的可靠性,并且通過(guò)對(duì)SDRAM進(jìn)行自測(cè)試可以判斷SDRAM是否失效,從而增加系統(tǒng)的可維護(hù)性。另外,邏輯實(shí)現(xiàn)也比較簡(jiǎn)單,不額外增加系統(tǒng)的復(fù)雜度。