本發(fā)明揭示了一種基于測試向量亂序和丟棄行為的驗證方法,亂序包括調(diào)度亂序和流水線亂序,所述驗證方法包括:S1,基于測試向量分組法的調(diào)度亂序驗證過程;S2,基于測試向量特征值的流水線亂序驗證過程;S3,基于測試向量特征值的丟棄驗證過程。本發(fā)明有效地解決了
芯片測試中測試向量亂序和丟棄所引起的記分板比對失效的問題,同時,解決了傳統(tǒng)方法中帶來的參考模型復雜度高,與DUT過于耦合等問題。
聲明:
“基于測試向量亂序和丟棄行為的驗證方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)