公開了一種電子產(chǎn)品抗沖擊性能測(cè)試裝置,包括:機(jī)架,固定在基座上,所述基座上具有承受電子產(chǎn)品跌落時(shí)沖擊力的沖擊板,所述機(jī)架兩側(cè)具有軌道;電磁釋放器,固定在所述機(jī)架頂部;夾具,其頂部吸附在所述電磁釋放器上,兩端置于所述導(dǎo)軌上;測(cè)速裝置,用于在所述電磁釋放器釋放所述夾具后測(cè)量所述夾具及其上的電子產(chǎn)品下落速度;以及電子散斑干涉測(cè)量系統(tǒng),用于獲得跌落到所述沖擊板上的電子產(chǎn)品的形變場(chǎng)。本公開采用電子散斑干涉技術(shù)測(cè)試電子產(chǎn)品受到?jīng)_擊時(shí)形變場(chǎng)的分布,可有效明確電子產(chǎn)品對(duì)于外界沖擊力所具有的抵御能力及失效點(diǎn)。
聲明:
“電子產(chǎn)品抗沖擊性能測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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