本發(fā)明公開一種SiC MOSFET模塊全生命周期結(jié)溫在線預(yù)測方法,具體按照以下步驟實(shí)施:步驟1,采用全新的SiC MOSFET模塊做功率循環(huán)直到模塊完全老化失效;在功率循環(huán)期間采樣該SiC MOSFET模塊的電氣參數(shù)作為數(shù)據(jù)集;步驟2,建立SiC MOSFET模塊結(jié)溫預(yù)測模型,包括依次連接的第一BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型和第二BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型;步驟3,采用數(shù)據(jù)集對(duì)進(jìn)行模型訓(xùn)練;步驟4,將訓(xùn)練好的SiC MOSFET模塊結(jié)溫預(yù)測模型移植到FPGA中,在被測的SiC MOSFET模塊實(shí)際運(yùn)行中,輸入電流Id,實(shí)時(shí)輸出對(duì)應(yīng)的結(jié)溫Tc。本發(fā)明能夠準(zhǔn)確得到SiC MOSFET模塊的結(jié)溫,確保帶模塊安全穩(wěn)定運(yùn)行。
聲明:
“SiC MOSFET模塊全生命周期結(jié)溫在線預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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