本發(fā)明涉及一種熱?電?力耦合場(chǎng)下剪切、蠕變、疲勞的鉸接式測(cè)試系統(tǒng),能夠原位實(shí)時(shí)獲取材料在熱?電?力耦合條件下電子封裝材料剪切、剪切蠕變、剪切疲勞力學(xué)行為的測(cè)試,并能通過(guò)位移傳感器實(shí)時(shí)獲取材料形變信息,通過(guò)對(duì)試件同時(shí)施加溫度場(chǎng)、電場(chǎng)和力場(chǎng),實(shí)現(xiàn)對(duì)電子封裝材料在真實(shí)多場(chǎng)極端工作環(huán)境下基本力學(xué)性能的觀測(cè)和測(cè)試;本發(fā)明便于探究熱?電?力多場(chǎng)耦合條件下焊點(diǎn)的損傷失效機(jī)制,將單物理場(chǎng)或雙物理場(chǎng)的加載條件拓展到多物理場(chǎng)耦合條件,解決了對(duì)焊點(diǎn)真實(shí)工作環(huán)境擬真度不夠的問(wèn)題,復(fù)現(xiàn)了焊點(diǎn)工作中多物理場(chǎng)耦合的真實(shí)環(huán)境。
聲明:
“熱-電-力耦合場(chǎng)下剪切、蠕變、疲勞的鉸接式測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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