本發(fā)明提供了一種光源測(cè)試裝置,包括:快切載體;其中,快切載體的承載面包括光學(xué)透鏡連接點(diǎn)和光源吸附導(dǎo)電連接點(diǎn);快切載體內(nèi)還包括磁性吸附結(jié)構(gòu);待測(cè)試光學(xué)透鏡通過光學(xué)膠粘附在光學(xué)透鏡連接點(diǎn);光學(xué)膠在預(yù)設(shè)光照下粘附失效;磁性吸附結(jié)構(gòu)將待測(cè)試光源的電極磁性吸附在光源吸附導(dǎo)電連接點(diǎn)上。本發(fā)明提供的光源測(cè)試裝置,在光學(xué)方案調(diào)整時(shí)可以實(shí)現(xiàn)光源和光學(xué)透鏡的快速切換,降低驗(yàn)證成本、縮短驗(yàn)證周期,此外,切換下來的光源沒有損壞,還可以重復(fù)使用。
聲明:
“光源測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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