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存儲芯片測試電路裝置以及系統(tǒng)

963   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網  
2023-03-19 09:00:25
本實用新型提供了一種存儲芯片測試電路裝置和系統(tǒng),電路裝置包括:至少一個功能模塊,設置于存儲芯片內;信號倍頻單元,設置于存儲芯片內,信號倍頻單元連接在功能模塊和存儲芯片的測試輸入端之間,用于將測試設備發(fā)送的測試信號在存儲芯片內部做倍頻處理,以生成倍頻信號輸出至功能模塊。各個功能模塊接收了倍頻信號,輸出測試結果信號,根據(jù)測試結果信號判斷此功能模塊是否失效。無需測試設備提供倍頻信號,有效降低測試成本。
聲明:
“存儲芯片測試電路裝置以及系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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