本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種超級(jí)電容壽命監(jiān)測(cè)方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)，涉及電子電氣領(lǐng)域。該方法包括：基于至少一個(gè)采樣時(shí)間段內(nèi)電容模組的電壓和電容模組的電流，得到電容模組中超級(jí)電容的容值，電容模組包括一個(gè)超級(jí)電容或串聯(lián)的兩個(gè)以上的超級(jí)電容；在預(yù)設(shè)的超級(jí)電容的容值與內(nèi)阻的對(duì)應(yīng)關(guān)系中，獲取與超級(jí)電容的容值對(duì)應(yīng)的目標(biāo)電容內(nèi)阻；利用目標(biāo)電容內(nèi)阻、超級(jí)電容的電流和電容失效參數(shù)，確定老化因子，老化因子用于表征老化對(duì)電容內(nèi)阻的影響；根據(jù)老化因子，確定超級(jí)電容的與老化因子對(duì)應(yīng)的壽命時(shí)長(zhǎng)。本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)超級(jí)電容壽命的監(jiān)測(cè)。