本發(fā)明公開了一種叉指狀測試結(jié)構(gòu)，包括：在第一方向上相對設(shè)置的多個(gè)金屬結(jié)構(gòu)；其中，所述金屬結(jié)構(gòu)包括：第一金屬線結(jié)構(gòu)；與所述第一金屬線結(jié)構(gòu)垂直設(shè)置連接的多條第二金屬線結(jié)構(gòu)；設(shè)置于相鄰兩條所述第二金屬線結(jié)構(gòu)之間的第三金屬線結(jié)構(gòu)；所述第三金屬線結(jié)構(gòu)為預(yù)設(shè)數(shù)量的短金屬線之間按照預(yù)設(shè)距離進(jìn)行依次排布，且排布方向垂直于所述第一金屬線結(jié)構(gòu)；所述第三金屬線結(jié)構(gòu)與所述第一金屬線結(jié)構(gòu)以及所述第二金屬線結(jié)構(gòu)之間均不連接；在所述第一方向上的所述第一金屬線結(jié)構(gòu)之間相互連接；在所述第一方向上的所述第三金屬線結(jié)構(gòu)中的相鄰的短金屬線之間相互連接。該叉指狀測試結(jié)構(gòu)可以精確定位失效點(diǎn)的位置。