本發(fā)明的長壽命、高可靠電子產(chǎn)品可靠性評估方法包括以下步驟:尋找電子產(chǎn)品的最薄弱功能模塊;設(shè)計加速退化試驗;數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析;以及確定可靠性模型;所述數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析具體為:通過數(shù)據(jù)折算將步進加速退化數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化成恒定應(yīng)力加速退化數(shù)據(jù);利用恒定應(yīng)力加速退化數(shù)據(jù)擬合得到性能退化軌跡;根據(jù)性能失效閾值和性能退化軌跡得到偽失效壽命,將每個應(yīng)力水平所對應(yīng)的偽失效壽命數(shù)據(jù)進行分布假設(shè)檢驗,以確定偽失效壽命數(shù)據(jù)服從的分布函數(shù);確定加速模型。本發(fā)明的長壽命、高可靠電子產(chǎn)品可靠性評估方法解決了試驗樣本短缺,試驗時間有限的問題,有效提高了電子產(chǎn)品的試驗效率,同時縮短了電子產(chǎn)品的可靠性評估時間。
聲明:
“長壽命、高可靠電子產(chǎn)品可靠性評估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)