一種對離散樣本數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計過程控制的方法,包括下述步驟:收集離散樣本數(shù)據(jù),根據(jù)統(tǒng)計分布函數(shù)計算所收集的離散樣本數(shù)據(jù)的置信區(qū)間和雙控制界限;根據(jù)計算所得的雙控制界限,判斷新收集的離散樣本數(shù)據(jù)是受控數(shù)據(jù)或是失控數(shù)據(jù);若新收集的離散樣本數(shù)據(jù)為受控數(shù)據(jù),根據(jù)統(tǒng)計分布函數(shù)重新計算用于計算原來的雙控制界限的離散樣本數(shù)據(jù)和新收集的受控數(shù)據(jù)的置信區(qū)間和雙控制界限;若新收集的離散樣本數(shù)據(jù)為失控數(shù)據(jù),對所述的失控數(shù)據(jù)進行失效分析,查找產(chǎn)生失控數(shù)據(jù)的因素。本發(fā)明可以節(jié)省生產(chǎn)過程中收集離散樣本數(shù)據(jù)所需耗費的成本和時間,進而降低生產(chǎn)過程中的測試成本以及縮短生產(chǎn)過程中的測試周期。
聲明:
“對離散樣本數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計過程控制的方法及其裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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