本發(fā)明公開了一種結(jié)合制造工藝及仿真的繼電器類單機貯存可靠性評估方法,所述方法通過建立繼電器有限元仿真模型,結(jié)合工藝數(shù)據(jù),獲得繼電器輸出特性初始分布;然后,通過對繼電器進行失效模式及失效機理分析,結(jié)合繼電器輸出特性初始分布及貯存退化試驗實測數(shù)據(jù),建立具有分布特性的繼電器貯存退化模型,結(jié)合電路仿真分析方法將底層繼電器的貯存退化數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為繼電器類單機貯存退化數(shù)據(jù);最后,利用最小二乘方法,得到繼電器類單機分布參數(shù)的退化軌跡,結(jié)合失效閾值,實現(xiàn)對繼電器類單機的貯存可靠性評估。本發(fā)明解決了因試驗經(jīng)費及試驗樣本制約而導(dǎo)致的繼電器類單機貯存可靠性評估精度較低的問題。
聲明:
“結(jié)合制造工藝及仿真的繼電器類單機貯存可靠性評估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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