本申請實(shí)施例提供一種數(shù)據(jù)處理方法及相關(guān)裝置,包括根據(jù)失效
芯片的測試結(jié)果數(shù)據(jù)獲取各個嫌疑失效路徑;獲取各個所述嫌疑失效路徑的各個嫌疑失效穿孔;確定各個所述嫌疑失效穿孔的穿孔失效風(fēng)險,并進(jìn)行風(fēng)險排序;根據(jù)所述風(fēng)險排序,優(yōu)先對各個所述嫌疑失效穿孔中風(fēng)險高的所述嫌疑失效穿孔進(jìn)行物理失效分析。本申請實(shí)施例所提供的數(shù)據(jù)處理方法可提高失效點(diǎn)位置定位的精準(zhǔn)度。
聲明:
“數(shù)據(jù)處理方法及相關(guān)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)