一種基于貝葉斯理論的電子產(chǎn)品壽命模型概率化方法,它有四大步驟:步驟一:主要失效機(jī)理及物理模型的確定;步驟二:確定主要失效機(jī)理中各種分散性的來源及表征方法;步驟三:確定失效機(jī)理服從的壽命分布;步驟四:基于貝葉斯理論更新參數(shù)分布,并結(jié)合失效物理模型,利用蒙特卡洛抽樣的方法獲得概率化壽命模型的數(shù)值求解。本發(fā)明是一種基于應(yīng)力損傷模型的高可靠長壽命電子產(chǎn)品失效概率計算方法,它通過分析導(dǎo)致電子產(chǎn)品故障的各種材料屬性、尺寸、應(yīng)力等因素的分散性及描述方法,在現(xiàn)有失效物理模型的基礎(chǔ)上考慮加入這些分散性因素,實(shí)現(xiàn)失效物理模型的概率化,為更準(zhǔn)確的描述故障,預(yù)測產(chǎn)品的貯存壽命提供一種新途徑。
聲明:
“基于貝葉斯理論的電子產(chǎn)品壽命模型概率化方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)