本實(shí)用新型屬于氣體分析儀領(lǐng)域,涉及整體加熱恒溫氣體吸收池,可應(yīng)用于各種氣體分析儀。被測(cè)氣體攜帶的顆粒物、水分及腐蝕性成分對(duì)光學(xué)部件的污染及腐蝕是最常見的故障原因?,F(xiàn)有的處理方法是采取快速冷凝裝置,將損失可溶于水的組份,導(dǎo)致儀器失效。溫度變化影響吸收率,而補(bǔ)償不能完全消除其影響。本實(shí)用新型給出整體加熱恒溫吸收池,由發(fā)射光纖、保護(hù)端蓋、杯形連接件、透鏡、密封圈、吸收池本體,加熱及溫控裝置、入口氣管、出口氣管,接收光纖等構(gòu)成,按照同軸順序完成兩側(cè)的組裝。本實(shí)用新型描述的吸收池結(jié)構(gòu)具有以下優(yōu)點(diǎn):水分不會(huì)污染吸收池;恒溫控制消除樣氣溫度變化引起的吸收率變化;避免可溶于水的組分損失;漂移小且拆裝方便。
聲明:
“整體加熱恒溫氣體吸收池” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)