本發(fā)明提供了一種射頻前端模塊量產(chǎn)不良
芯片分類方法,其能夠根據(jù)不良品的測試數(shù)據(jù)進行分類,從而對不同風險等級的類進行管控分析,提高了風險失效的探測率,進而提高了產(chǎn)品的出貨質(zhì)量。
聲明:
“射頻前端模塊量產(chǎn)不良芯片分類方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)