一種SiP工藝可靠性評估試驗(yàn)載體的特性表征方法,通過PFMECA分析SiP產(chǎn)品的關(guān)鍵工藝,根據(jù)風(fēng)險(xiǎn)要素分析關(guān)鍵結(jié)構(gòu),從而確定試驗(yàn)載體的需要包含的工藝域,再基于失效物理方法或定性分析方法確定試驗(yàn)載體的特性表征參數(shù)數(shù)值,能夠通過制造用于驗(yàn)證SiP生產(chǎn)工藝的試驗(yàn)載體,代替用于考核驗(yàn)證的SiP樣品,以減少生產(chǎn)遠(yuǎn)大于需求量的SiP樣品的花費(fèi),從而降低SiP產(chǎn)品的成本。
聲明:
“SiP工藝可靠性評估試驗(yàn)載體的特性表征方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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