在OTP存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)中,隨著存儲(chǔ)器容量不斷加大,位線負(fù)載也相應(yīng)變大,這有可能導(dǎo)致讀機(jī)制失效。為了防止這種失效,必須增加靈敏放大器的充電時(shí)間,但是延長充電時(shí)間會(huì)影響讀取速度這一關(guān)鍵參數(shù)。本文在分析OTP存儲(chǔ)器靈敏放大器工作原理的基礎(chǔ)上,首先研究了位線負(fù)載對OTP存儲(chǔ)器讀出速度的影響,并通過仿真,優(yōu)化了OTP存儲(chǔ)器的讀出電路參數(shù),從而提供了一種讀出時(shí)間可通過位線負(fù)載調(diào)節(jié)的OTP存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)。
聲明:
“讀出速度可通過位線負(fù)載調(diào)節(jié)的OTP存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)