本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體器件和包括所述半導(dǎo)體器件的系統(tǒng),其涉及在半導(dǎo)體器件的探針測試期間檢測有缺陷或失效部分的技術(shù)。所述半導(dǎo)體器件包括測試控制器,該測試控制器被配置為在測試信號的激活期間執(zhí)行讀取標(biāo)志信號的計(jì)數(shù),以及控制數(shù)據(jù)掩蔽信號在讀取標(biāo)志信號的第N激活時(shí)間被觸發(fā)。所述半導(dǎo)體器件還包括單元陣列,該單元陣列被配置為在寫入操作期間經(jīng)由數(shù)據(jù)線接收和儲(chǔ)存測試控制器的輸出信號,以及在讀取操作期間將所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)輸出到測試設(shè)備。
聲明:
“半導(dǎo)體器件和包括其的系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)