本發(fā)明公開了保護(hù)裝置出口矩陣校驗(yàn)儀和校驗(yàn)方法,端口的數(shù)量與采樣電路的數(shù)量相同,且端口和采樣電路一一對(duì)應(yīng);端口通過與該端口對(duì)應(yīng)的采樣電路連接于處理器;采樣電路包括三極管Q、電阻R1和電阻R2;電阻R1的一端連接于端口,且電阻R1的另一端連接于三極管Q的基極;電阻R2的一端連接于三極管Q的集電極,電阻R2的另一端連接于供電VCC;三極管Q的集電極連接于處理器,且三極管Q的發(fā)射極接地;電阻R1的阻值大于或等于10MΩ。本發(fā)明保護(hù)裝置出口矩陣校驗(yàn)儀及校驗(yàn)方法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)同時(shí)對(duì)多路通道電壓信號(hào)的采集,并且在采集過程中,不會(huì)觸發(fā)設(shè)備絕緣巡檢儀,既提高了使用效率又減少了意外觸發(fā)帶來的檢測失效。
聲明:
“保護(hù)裝置出口矩陣校驗(yàn)儀及校驗(yàn)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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