本發(fā)明提供一種判斷半導(dǎo)體激光器芯片光學(xué)災(zāi)變類型的方法，解決現(xiàn)有半導(dǎo)體激光器芯片COBD和COMD的判斷成本較高、判斷時(shí)間較長(zhǎng)、生產(chǎn)效率較低的問(wèn)題。該方法包括：步驟一、設(shè)置加載電流；步驟二、將加載電流加載在半導(dǎo)體激光器芯片上；步驟三、采集半導(dǎo)體激光器芯片的電流?功率曲線、電流?電壓曲線；步驟四、若電流?功率曲線突然下降，同時(shí)，電流?電壓曲線突然上升，則判斷芯片的光學(xué)災(zāi)變?yōu)镃OMD；若電流?功率曲線突然下降，同時(shí)，電流?電壓曲線突然下降，則判斷芯片的光學(xué)災(zāi)變?yōu)镃OBD。本發(fā)明方法無(wú)需專業(yè)設(shè)備，只需采集測(cè)試過(guò)程中的電流、功率值和電壓值，即可進(jìn)行COBD和COMD的判斷，檢測(cè)設(shè)備簡(jiǎn)單、成本較低，只需普通技術(shù)人員即可實(shí)現(xiàn)失效的判斷。