本發(fā)明公開(kāi)了一種存儲(chǔ)器壞點(diǎn)管理的實(shí)現(xiàn)方法，該實(shí)現(xiàn)方法首先在存儲(chǔ)器開(kāi)辟一個(gè)壞點(diǎn)管理區(qū)和一個(gè)備用數(shù)據(jù)區(qū)，在燒寫(xiě)器燒寫(xiě)過(guò)程中，芯片自動(dòng)實(shí)現(xiàn)判斷存儲(chǔ)器地址是否失效而無(wú)法保存數(shù)據(jù)，同時(shí)把此處的地址記錄下來(lái)，保存到壞點(diǎn)管理區(qū)；芯片判斷壞點(diǎn)之后，把此時(shí)需要燒寫(xiě)的數(shù)據(jù)燒寫(xiě)到備用數(shù)據(jù)區(qū)，則備用數(shù)據(jù)區(qū)地址代替了壞點(diǎn)地址，實(shí)現(xiàn)壞點(diǎn)管理的目的。本發(fā)明既可以實(shí)現(xiàn)提前預(yù)知燒寫(xiě)時(shí)遇到的存儲(chǔ)器的壞點(diǎn)問(wèn)題，分析存儲(chǔ)器壞點(diǎn)程度，又可以增加存儲(chǔ)器壞點(diǎn)管理，提高芯片良率，降低成本。