本發(fā)明公開了一種在役電子系統(tǒng)可靠性評(píng)估方法,包括以下步驟:步驟1,給電子系統(tǒng)供電,獲取電子系統(tǒng)溫度分布圖像序列;步驟2,提取元器件子塊區(qū)域;步驟3,獲得各元器件的溫度值隨時(shí)間變化的序列數(shù)據(jù);步驟4,建立維納過程模型,得到電子系統(tǒng)的可靠度函數(shù);步驟5,以各元器件工作溫度連續(xù)兩次超過安全閾值的時(shí)間間隔為隨機(jī)變量,根據(jù)極大似然估計(jì)法確定漂移參數(shù)與擴(kuò)散系數(shù)的先驗(yàn)估計(jì)值;步驟6,采用貝葉斯方法逐步更新模型參數(shù),計(jì)算得到漂移系數(shù)與擴(kuò)散系數(shù)的后驗(yàn)估計(jì)值,從而估算電子系統(tǒng)在不同退化程度下的可靠度。本發(fā)明采用兩次越過閾值的時(shí)間間隔來進(jìn)行失效分析和可靠性評(píng)估,具有良好的魯棒性和準(zhǔn)確性。
聲明:
“在役電子系統(tǒng)可靠性評(píng)估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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