一種測試在電子系統(tǒng)中實現的集成電路的方法。所述方法包括使在工作系統(tǒng)(例如,在計算機系統(tǒng))中實現的集成電路(或其一部分)進入離線狀態(tài)。設置集成系統(tǒng)的電參數(例如,電壓,時鐘頻率等),并進行內置自測試(BIST)。記錄在BIST期間的任何失效。隨后對電參數的多個預定值中的每個值重復所述測試,記錄發(fā)生的任何失效。一旦完成了測試,就確定每個預定值的失效率和合格范圍。
聲明:
“監(jiān)控和調整電路性能的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
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