一種產(chǎn)品的可靠性評價方法、可讀存儲介質(zhì)和電子設(shè)備,方法包括:基于產(chǎn)品的多個實驗樣本對應(yīng)的壽命數(shù)據(jù),獲得產(chǎn)品累積失效函數(shù);基于產(chǎn)品累積失效函數(shù)的凹凸性,獲得實驗樣本每一時刻的累積失效率;基于所述實驗樣本每一時刻的累積失效率,使用參數(shù)估計方法,獲得產(chǎn)品壽命分布的參數(shù)值,并以此預(yù)測產(chǎn)品的可靠壽命或可靠度。本公開適用于包括小樣本在內(nèi)的多種樣本數(shù)量的壽命數(shù)據(jù)的壽命預(yù)測與可靠性評估過程,預(yù)測結(jié)果較為精準(zhǔn)。
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“產(chǎn)品的可靠性評價方法、可讀存儲介質(zhì)和電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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