本發(fā)明公開了一種用于CMOS圖像傳感器的列讀出電路校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法,通過在CMOS圖像傳感器上集成與有效列讀出電路通過選通開關(guān)并聯(lián)的校準(zhǔn)列讀出電路;利用有效列讀出電路的讀出數(shù)據(jù)判斷CMOS圖像傳感器上有效列讀出電路列的失效情況;通過校準(zhǔn)列讀出電路獲取CMOS圖像傳感器上校準(zhǔn)列讀出電路的讀出數(shù)據(jù),根據(jù)校準(zhǔn)列讀出電路的讀出數(shù)據(jù)判斷校準(zhǔn)列讀出電路列的失效情況;利用校準(zhǔn)列讀出電路的有效列電路替換有效列讀出電路的失效列電路,實(shí)現(xiàn)CMOS圖像傳感器的列讀出電路校準(zhǔn),通過測(cè)試確定有效列讀出電路中失效列,利用校準(zhǔn)列讀出電路實(shí)現(xiàn)失效列校準(zhǔn),可有效降低壞列影響,提升電路成品率。
聲明:
“用于CMOS圖像傳感器的列讀出電路校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)